開催概要
二次イオン質量分析法のハードウェア基礎講座
開催日
2013年6月21日（金）13：00～ 22日（土）
場所
北海道大学創成科学研究棟５階大会議室
プログラム
６月21日（金）
13:00-13:15 SIMS装置の概説 圦本尚義（北海道大学）
13:15-14:15 SIMSの真空系 三輪司郎（アメテックカメカ事業部）
14:15-15:15 一次イオン源と一次イオン光学系 松尾二郎（京都大学）
15:30-16:30 サンプルチャンバーと二次イオン質量分析系 野島雅（東京理科大学）
16:30-17:30 二次イオン検出系 圦本尚義（北海道大学）
18:00-20:00 懇親会
6月22日（土）10時〜12時
110:00-12:00 SIMS装置見学
セクター型SIMS（カメカIMS-3f, 6f,1270）
マルチターンTOF-SNMS（JEOL LIMAS）
申し込み
締切：6月７日（金）
定員：50名