開催概要
TOF-SIMS, D-SIMS, Atom Probe, SNMS，イオン散乱、およびその関連分野に関する国際シンポジウム (SISS-17) を開催いたします。イオンを活用した新たな計測手法へ の展開を目指して活発な議論ができる場にしたいと考えています。またプレナリーレクチャーにおいてA. Wucher教授にご講演頂く予定です。皆様の積極的なご参加をお待ちしております。
開催日
2015年6月25日～26日
※懇親会（無料）は、6月25日 夕刻
会場
成蹊大学 14号館 4階大会議室 アクセス（外部サイト）
プログラム
プログラム（ダウンロード）
タイムテーブル（ダウンロード）
招待講演者
Hidde H. Brongersma (Eindhoven Univ. Technology / Imperial College (London) / ION-TOF GmbH)
Birgit Hagenhoff (Tascon GmbH)
Laurent Houssiau (Univ. de Namur)
Fumio Inagaki (JAMSTEC, Japan Agency for Marin-Earth Science and Technology)
Sung-Kyu Kim (National Institute for Nanomaterials Technology (NINT), POSTECH)
Kenji Kimura (Kyoto Univ.)
Mary L. Kraft (Univ. of Illinois)
Nicholas Lockyer (Univ. of Manchester)
Charles W. Magee (Evans Analytical Group)
Daisuke Miura (Kyushu Univ.)
Kenji Nishida (CRIEPI, Central Research Institute of Electric Power Industry)
Koichi Nishikawa (Toyota Central R&D Labs., Inc.)
Peter Sjövall (SP Technical Research Institute of Sweden)
Andreas Wucher (University of Duisburg-Essen)
Li Yang (Xi’an Jiaotong-Liverpool University)
発表募集
申込期限 口頭発表（終了しました）
ポスター発表（終了しました）
発表方法
口頭発表は英語での発表をお願いします。
スライド、ポスターは必ず英文で作成してください｡
ポスター発表では、2分程度のショートプレゼンテーションもお願いしています。
Maximum Poster Size: 850mm x 1200mm(Poster board size: 900 mm × 1800 mm)
要旨提出
発表者には要旨の提出をお願いいたします。
MS-WordもしくはPDFファイルを(A4 page size, 1 page or 2 pages)をご準備ください。
要旨提出期限：（終了しました）
参加費
一般 5,000円、学生 2,000円
実行委員
座長 圦本尚義（北海道大学）
実行委員長 高野明雄（ＮＴＴ－ＡＴ）
プログラム 野島 雅（東京理科大学）
青柳里果（成蹊大学
Songsu Cho (Ametek)
石川真起志（アメテック）
石川修司（日立ハイテクサイエンス）
大岩烈（オミクロン）
大友晋哉（古河電工）
加連明也（物質・材料研究機構）
工藤正博 （成蹊大学）
齋藤玲子（東芝）
清水康雄（東北大学）
白水達也（三菱電機）
趙 成洙（アメテック）
西野宮卓（新日鐵住金）
松尾二郎（京都大学）
宮坂豊光（旭化成）
村瀬 篤（豊田中央研究所）